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良品画像の学習だけで不良品を見分けるAI NECが開発

 NECは5月8日、良品の画像データを学習するだけで不良品を判別できるAI(人工知能)技術を活用した検品業務向けのソフトウェアを開発したと発表した。大量生産の工場ラインで、長時間にわたり均一な判断が求められる検品業務の効率化を図る。  同社によれば、従来は良品と不良品の画像を1000件規模でAIに事前学習させる必要があったが、製造精度が高い日本の工場では不良品データを大量に集めにくいという課題があった。  新技術では、1種類の画像データのみを学習させることで、2種類の画像データを判別できるという「OneClass分類アルゴリズム」を採用し、不良品が出にくい製造業でも、AIを使ったシステムを導入しやすくした。これまでにも ...

2018/05/13 | ITmedia

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